辰卓科技CZD800測試機：三大方面提升MCU類產品測試成本效益

作為國產半導體的“頂流”，國產MCU市場規模、產品規格、工藝水平都在持續提升，在芯片測試方面，如何更加經濟高效的執行MCU芯片測試，也是整個產業鏈持續追求的目標。

辰卓科技推出的CZD800數字測試機，面向MCU、Nor Flash、ASIC等數字類芯片的CP/FT測試，從系統架構、硬件能力、軟件效率等各個方面進行了專門的測試效率提升設計，能夠為MCU類產品測試帶來更高成本效益。

CZD800在系統設計上創新采用嵌入式主控方式，從多個維度實現了測試執行效率的提升：

ATE軟件系統直接部署在嵌入式主控，與Tester之間以系統內通信方式進行交互，配合自定義的軟硬件通信機制，在保障軟硬件指令執行同步性與可靠性的同時，充分發揮系統內通信機制的優勢，簡化通信流程，極大提升了Tester軟硬件交互效率。

相比外置主控方式，單指令交互時延從ms級別可提升到百ns級別。

嵌入式主控與各業務板擁有獨立高速物理連接通道，配套多核多線程資源，可將具體業務執行分發至多塊業務板并行執行，構建高速化并行系統。

配套CZD800的程序語言在指令設計上充分考慮并行優化，可以將并行系統能力發揮到極致，測試程序執行效率更高。

以上優化設計在實際量產中效果明顯。

以一款帶Nor Flash的MCU 12寸Wafer CP測試為例，128-site并測，測試分為3個CP段，CP1完成芯片MTP基礎編程功能測試，CP2完成測試程序寫入、核心/外設功能測試、MTP區域編程的進一步校驗等，CP3完成Scan、Trimming、功耗等其他DC項測試。

與海外某同等配置機型對比，相同良率下辰卓科技CZD800數字測試機平均到每TD耗時共計27.2s（4+15.2+8），相比對比機型的32.3s（4.8+19.2+8.3），在測試效率上平均有15.7%的提升。

并測度提升是效率提升最有效的手段，CZD800通過豐富的單機資源提供高并測能力，單機可實現256-site并測

?  數字板單板128通道，自帶板級PMU、DPS資源和AWG功能，單機可達1024 IO通道

?  Pattern向量存儲空間128M行，測試速率200Mbps， Per-pin規格，無使用限制

?  高密度DPS板單板可支持64通道，高壓VI板可支持±40V 32通道，靈活搭配滿足各類測試供電需求

?  獨立的16-bit AWG板可提供更豐富的大數小模測試方案

CZD800配套全自研ATE軟件系統MetaATE，在指令設計、工具支持、人機交互方面均以高效、易用為設計目標：

? 高內聚指令簡化程序開發步驟

MetaATE在程序指令的設計上充分考慮關聯操作的聚合性，一條指令可完成一類相關操作，極大簡化了程序開發的步驟，可以節省至少20%的程序開發時間。

接下來辰卓科技將發布CZD800升級款產品CZD800H，CZD800H面向中高端SoC芯片測試，在資源規格、測試速率方面都會有大幅提升，將會為國產中高端SoC芯片測試帶來更高性價比方案。

辰卓科技秉持“半導體檢測技術創新專家，助力半導體產業自主可控、高效可靠”的企業使命，在助力客戶提升測試成本效益方面不懈努力，將持續推出技術行業領先、測試高效穩定的半導體測試機產品及解決方案，與行業客戶合作共贏。